X熒光光譜儀主要用途
x熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度,也可以獲得各元素的含量信息。
近年來,X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
X熒光光譜儀制樣要求
樣品的zui大尺寸(直徑x高)50x 40mm,zui大重量400g。
1、定量分析
定量分析是對樣品中元素進行準(zhǔn)確定量測定。定量分析需要一組標(biāo)準(zhǔn)樣品做參考。常規(guī)定量分析一般需要5個以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品才能建立較可靠的工作曲線。
常規(guī)X射線熒光光譜定量分析對標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本要求:
?。?)組成標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素種類與未知樣相似(相同);(2)標(biāo)準(zhǔn)樣品中所有組分的含量應(yīng)該已知;(3)未知樣中所有被測元素的濃度包含在標(biāo)準(zhǔn)樣品中被測元素的含量范圍中;(4)標(biāo)準(zhǔn)樣品的狀態(tài)(如粉末樣品的顆粒度、固體樣品的表面光潔度以及被測元素的化學(xué)態(tài)等)應(yīng)和未知樣一致,或能夠經(jīng)適當(dāng)?shù)姆椒ㄌ幚沓梢恢隆?/div>
標(biāo)準(zhǔn)樣品可以向研制和經(jīng)營標(biāo)準(zhǔn)樣品的機構(gòu)(如美國的NIST等)購買,如果買不到合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品,可以委托分析人員研制,但應(yīng)考慮費用和時間的承受能力。
2、定性分析與半定量分析
定性分析和半定量分析不需要標(biāo)準(zhǔn)樣品,可以進行非破壞分析。半定量分析的準(zhǔn)確度與樣品本身有關(guān),如樣品的均勻性、塊狀樣品表面是否光滑平整、粉末樣品的顆粒度等,不同元素半定量分析的準(zhǔn)確度可能不同,因為半定量分析的靈敏度庫并未包括所有元素。同一元素在不同樣品中,半定量分析的準(zhǔn)確度也可能不同。大部分主量元素的半定量分析結(jié)果相對不確定度可以達到10%(95%置信水平)以下,某些情況下甚至接近定量分析的準(zhǔn)確度。
半定量分析適用于:對準(zhǔn)確度要求不是很高,要求速度特別快(30min以內(nèi)可以出結(jié)果),缺少合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品,非破壞性分析等情況。
另外,分析樣品中,除要求分析的感興趣元素外,其他元素或組分的含量也必須預(yù)先知道。如Li2O-B2O3-SiO2系的玻璃,由于常規(guī)不能分析Li2O和B2O3,所以必須用其他方法(如AA,ICP-AES等)測出它們的含量,然后用X射線熒光光譜法測定其他元素。